
1/2
Måleapparat til tykkelse
jernholdige substrater
0 - 1250 µm
Fabriksstandard
(L x B x H) 25 x 21 x 5.3 cm
750 g
LCD
0.1 µm
3 %
1 stk
1250 µm
0 µm
Ultralyd
21 cm
5.3 cm
25 cm
10 mm
Ja
Datablad 756160 Sauter TE 1250-0.1F Måleapparat til tykkelse 0 - 1250 µm
Instruktioner for brug og sikkerhed 756160 Sauter TE 1250-0.1F Måleapparat til tykkelse 0 - 1250 µm
Information 756160 Sauter TE 1250-0.1F Måleapparat til tykkelse 0 - 1250 µm